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設備機器・装置
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日立ハイテクアナリティカルサイエンス |
X-Strata920 |
特徴
蛍光Ｘ線膜厚計は、主にメッキの膜厚を非接触・非破壊で測定するために使用します。Ｘ線は、コリメーターやキャピラリなどでサンプルの微小領域を照射し、検出した蛍光Ｘ線のスペクトル波形から、短時間で皮膜成分を定性し、厚み（定量）を行います。 電子部品、自動車部品、貴金属・装飾品の品質管理に用いられます。検出器に比例計数管を使用しています。コストパフォーマンスに優れています。 半導体検出器より検出窓が大きく、カウントレートが高いので、繰返し測定の再現性に優れています。X線管球は自社製OXFORD社のマイクロフォーカス、Be窓を採用しています。
